Вариант исполнения LPS-X
Вариант исполнения LPS-X


LSP-X представляет собой чувствительный дефокусирующий рентгеновский спектрометр с выпуклым кристаллом, такая конструкция позволяет регистрировать широкий спектральный диапазон за одно измерение, что выгодно отличает прибор от кристаллических спектрометров, использующих одну кристаллическую плоскость. Для удобства использования может быть  совмещен с блоком юстировки, обеспечивать абсолютные спектральные измерения источников рентгеновского излучения низкой интенсивности (те определять энергетические характеристики линий, а не "условные" единицы с регистратора). Может применяться в  рентгеновском флуоресцентном анализе, EXAFS и т.д.


Спектральный диапазон:  0.2 – 1.7 нм;
Разрешение: λ/δλ = 100-400;
Кристалл: отобранная слюда оптического качества;
Калибровки: по длинам волн и по интенсивности (абсолютная калибровка);
Детекторы: CCD/МКП - применение микроканальной пластины расширяет спектральный диапазон, но не позволяет характеризовать слабые источники

Mo         Спектр Mo

Ti           Спектр Ti

Вариант исполнения ренгеновского кристаллического спектрометра с микроканальной пластиной
Вариант исполнения ренгеновского кристаллического спектрометра с микроканальной пластиной

Кривая разрешения LPS-X
Кривая разрешения LPS-X